인천대학교 공동기기원

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기기명		기기약어	모델	상태
한글명	400MHz 핵자기 공명 분광기 (직접사용)	NMR 400	Agilent Agilent 400-MR	수리
영문명	Nuclear Magnetic Resonance Spectroscopy 400MHz (직접사용)

한글명	고분해능 X-선 회절장치_Hypix-3000	HR-XRD_Hypix-3000	Rigaku Smartlab Hypix-3000	정상
영문명	High Resolution X-ray Diffraction_2

한글명	고분해능 X-선 회절장치_Smartlab	HR-XRD	Rigaku SmartLab	수리
영문명	High Resolution X-ray Diffractomer_1

한글명	공초점 레이저 주사 현미경	CLSM	ZEISS LSM 700	정상
영문명	Confocal Laser Scanning Microscope

한글명	라만-형광분석장치	RAMAN	Witec Witec alpha300	정상
영문명	Raman-LTPL system

한글명	멀티칼로리미터 외		부성교역 외 -	정상
영문명	Multi-Calorimeter

한글명	변환 핵자기공명 분광기 (Bruker NMR 400MHz 분석의뢰)	Bruker NMR 400MHz	Bruker AVANCE III HD	정상
영문명	Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer (Bruker NMR 400MHz)

한글명	시분해 형광 분광기	TCSPC	PicoQuant FluoTime300/MicroTime100	정상
영문명	Time Correlated Single Photon Counting Spectrometer

한글명	야간 :: 고분해능 X-선 회절분석기	야간 HR-XRD	Rigaku Smartlab	정상
영문명	Night :: High Resolution X-ray Diffraction

한글명	열 전계방출형 주사 전자현미경 7001F[분석의뢰]	FE-SEM 7001F/EDS	JEOL JSM-7001F	정상
영문명	Field Emission Scanning Electron Microscope

한글명	열 전계방출형 주사 전자현미경 7001F[자율사용]	FE-SEM 7001F/EDS	JEOL JSM-7001F	정상
영문명	Field Emission Scanning Electron Microscope

한글명	열 전계방출형 주사 전자현미경 7800F	FE-SEM/EDS	JEOL JSM-7800F	정상
영문명	Field Emission Scanning Electron Microscope

한글명	열 전계방출형 주사전자현미경 IT-800		Jeol JSM IT-800	정상
영문명	JSM IT-800

한글명	열전계방출형 투과전자현미경	FE-TEM/STEM-EDS	Thermo Fisher Scientific/FEI Talos F200X	정상
영문명	Field Emission Transmission Electron Microscope

한글명	온도화상측정용계측시스템		Infratec -	정상
영문명	Thermographic System

한글명	유도결합플라즈마 분광광동계	ICP-OES	iCAP7400 Duo Thermo	정상
영문명	Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectroscopy

한글명	유도결합플라즈마 질량분석기	ICP-MS	Thermo iCAP Q	정상
영문명	Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry

한글명	이온빔 단면가공기	CP	JEOL IB-09020CP	정상
영문명	Cross Section Polisher

한글명	주사탐침현미경(분석의뢰)	AFM	Bruker MULTIMODE-8-AM	정상
영문명	Atomic Force Microscope

한글명	주사탐침현미경(자율사용)	AFM	Bruker MULTIMODE-8-AM	정상
영문명	Atomic Force Microscope
AFM
한글명	진공 FT-IR & FT-IR현미경(분석의뢰)	FT-IR	Bruker VERTEX 80V, HYPERION 2000	정상
영문명	Vacuum FT-IR & FT-IR Microscope

한글명	진공 FT-IR & FT-IR현미경(자율사용)		Bruker VERTEX 80V, HYPERION 2000	정상
영문명	Vacuum FT-IR & FT-IR Microscope

한글명	측정 무향실 / 소음 측정기		한미실업 -	정상
영문명	Semi-anechoic room

한글명	팬테스터		부성교역 -	정상
영문명	FAN TESTER

한글명	표면분석기		Bruker DEKTAK XT-E	정상
영문명	Surface profiler

한글명	표면분석기(자율사용)		Bruker DEKTAK XT-E	정상
영문명	Surface profiler

한글명	항온항습룸챔버		디모스텍 DS-313TLHP-153	정상
영문명	Constant Temperature and Humidity Chamber

한글명	X-선 광전자 분광기(new)	XPS	ThermoFisher NEXSA G2	정상
영문명	X-ray photoelectron spectroscopy(new)
XPS
한글명	X-선 광전자 분광기(PHI)	XPS	ULVAC-PHI PHI 5000 Versa Probe Ⅱ	정상
영문명	X-ray photoelectron spectroscopy(PHI)