2023-03-23 이후 사용 예정건만 예약 가능
| 월 | 화 | 수 | 목 | 금 | 토 | 일 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 10:00 - 17:00 | 10:00 - 17:00 | 10:00 - 17:00 | 10:00 - 17:00 | 10:00 - 17:00 | X | X |
점심시간 이용불가 : 12:00 ~ 13:00
투과전자현미경은 가속된 전자빔을 100nm 이하 두께의 얇은 시편에 조사하여 투과된 전자빔과 회절된 전자빔을 이용하여 고배율영상과 회절도형을 얻어 분석하는 기기이다.
TALOS F200X는 80V-200kV 까지 가속전압이 변경이 가능하여 질 높은 나노단위 물질의 특성을 빠르게 얻을 수 있다.
* Electron Gun : High brightness field - emission gun
* Accelerating voltage : 200kV
* Resolution : TEM point resolution : 0.25nm
TEM lattice resolution : 0.10nm
STEM resolution : 0.16nm
* Magnification : TEM mode : 25 - 1,030,000 X
STEM mode : 150 - 230,000,000X
* Probe current : 1.5nA at 1nm probe
0.4nA at 0.31nm probe
* Total beam current >50nA
* 4 channel EDS Detectors
◎ 수수료 10% 미포함
◎ 해당 요금은 교외요금 기준으로 교내의뢰시 50% 감면
◎ 최초 1시간 기본사용료 청구 후 30분 단위 청구가능 (09:30-10:00예약제외)
◎ 직접사용 가능 기기는 교내외 교육 후 이용 가능
| 분석항목 | 단가(직접사용) | 단가(분석의뢰) | 단위 | 비고 |
|---|---|---|---|---|
| TEM | 75,000원 |
30분 | ||
| STEM(EDS) | 100,000원 |
30분 | ||
| Grid | 6,000원 |
6,000원 |
개 | |
| 사용 | 75,000원 |
30분 | 페널티 |
