2023-03-23 이후 사용 예정건만 예약 가능
| 월 | 화 | 수 | 목 | 금 | 토 | 일 |
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| 09:00 - 17:00 | 09:00 - 17:00 | 09:00 - 17:00 | 09:00 - 17:00 | 09:00 - 17:00 | X | X |
점심시간 이용불가 : 12:00 ~ 13:00
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장비별 안내사항 |
▶ Cross Section Polishing
▶ Ar Ion Beam을 이용해 샘플의 단면을 가공하여 시료 관찰을 돕는 가공 장비
▶ Model : JEOL Model IB-09020CP (CP II)
▶ Specification
·Accelerating voltage : 2 to 6㎸
·Ion beam diameter : 500㎛
·Milling rate :100㎛/h (6㎸, Silicon, 100㎛from edge)
·Max. specimen size : 11㎜ × 10㎜ × 2㎜
·Specimen swing angle : ±30。
·Gas : Argon(flow rate controlled by mass-flow controller)
◎ 수수료 10% 미포함
◎ 해당 요금은 교외요금 기준으로 교내의뢰시 50% 감면
◎ 최초 1시간 기본사용료 청구 후 30분 단위 청구가능 (09:30-10:00예약제외)
◎ 직접사용 가능 기기는 교내외 교육 후 이용 가능
| 분석항목 | 단가(직접사용) | 단가(분석의뢰) | 단위 | 비고 |
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| 기본가공 | 10,000원 |
30분 | ||
| 사용 | 10,000원 |
30분 | 페널티 |
