월 | 화 | 수 | 목 | 금 | 토 | 일 |
---|---|---|---|---|---|---|
13:00 - 15:00 | 13:00 - 15:00 | 13:00 - 15:00 | 13:00 - 15:00 | 13:00 - 15:00 | X | X |
직접사용 은 10시-12시, 1시-3시 이용 가능.
분석의뢰는 담당자가 오전에는 다른기기 분석중인 관계로 1시-3시만 이용 가능.
- 분석 사용시간은 무조건 2시간 단위로 예약바람. (만약 그렇지 않을경우에는 관리자가 임의로 변경할 수 있음/ 분석사용료는 사용시간만큼 30분단위로 부과함) - 당일 취소인 경우 100프로 분석사용료 부과함. |
주사 전자현미경은 전자 빔이 표면에 집중되어 일차 전자만 굴절되고 표면에서 발생된 이차전자를 수집하여 그 신호들을 형상화시키는 현미경으로서 시료 표면의 정보를 얻을 수 있다.
현재 보유중인 FE-SEM는 낮은 가속전압에서도 시편 관찰이 용이하여 전자 빔에 의한 시료의 손상을 최소화 할 수 있다. 또한 EDS가 부착되어 있어 시편의 성분과 표면성분에 관한 연구를 수행할 수 있다.
이러한 장점으로 물질연구, 생물학, 고분자 특성연구, 반도체 연구 등 많은 분야에 널리 이용된다.
▶ 2011년 12월도입
▶ Model : JEOL JSM-7001F
▶ Specification
·Resolution : 1.2㎚(30㎸), 3.0㎚(1㎸)
·Magnification : x10 ~ x1,000,000
·Accelerating voltage : 0.2 to 30㎸
·Probe current : 10-12 ~ 2 x 10-7 A
·Electron Gun :Schottky type field emission gun
·Objective lens(O.L) : Super conical out lens.
·Specimen Exchange Chamber : 5aixs motor control
·Electreon Detectors : Secondary electron detector
·Retractable backscattered electron detector
▶ 반도체, 물리, 화학
◎ 수수료 10% 미포함
◎ 해당 요금은 교외요금 기준으로 교내의뢰시 50% 감면
◎ 최초 1시간 기본사용료 청구 후 30분 단위 청구가능 (09:30-10:00예약제외)
◎ 직접사용 가능 기기는 교내외 교육 후 이용 가능
* 신규 FE-SEM장비 JSM IT-800 는 현재 프로모션으로 FE-SEM_7800F와 가격 동일
(추후 변동 예정)
분석항목 | 단가(직접사용) | 단가(분석의뢰) | 단위 | 비고 |
---|---|---|---|---|
기본 | 33,000원 |
33,000원 |
30분 | |
코팅 | 20,000원 |
20,000원 |
회 | |
EDS(point) | 2,000원 |
2,000원 |
회 | |
EDS(mapping) | 4,000원 |
4,000원 |
회 | |
EDS(linescan) | 4,000원 |
4,000원 |
회 |