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Vacuum FT-IR & FT-IR Microscope
진공 FT-IR & FT-IR현미경(분석의뢰)
  • 호실
    9호관 213호
  • 제조사(국가)
    Bruker ()
  • 모델
    VERTEX 80V, HYPERION 2000
  • 도입일자
  • 연락처
    032-835-4219
예약/신청하기
즐겨찾는기기 추가
신청가능 시간    2024-11-07 이후 사용 예정건만 예약 가능
09:00 - 17:00 09:00 - 17:00 09:00 - 17:00 09:00 - 17:00 09:00 - 17:00 X X
점심시간 이용불가 : 12:00 ~ 13:00

1. "담당자 일정"은 타장비 예약이 있는 경우로 클릭하여 보시면 예약시간 확인이 가능합니다.  

    그 외 시간은 예약 가능합니다.

2. 수요일 오전 11시 이후 실험실 및 기관별 예약제한이 미적용됩니다.

3. 샘플 수량이 적을 경우 공동기기원으로 연락주시기 바랍니다.

원리 및 특성

FT-IR 은 물질의 구조동정과 다중결합, 작용기, cis-trans 이성체, 환의 치환위치, 수소결합 및 chelation 등의 구조의 특징을 알수 있으며 상대적 정량분석에도 이용된다.

또한 현미경(HYPERION 2000)을 통해 시료의 Chemical imaging 및 Mapping 정보를 알 수 있고, Material  science, Forensics,  Mineralogy, Failure analysis, Content uniformity 분야의 시료들에 Homogeneity 및 Quality control을 실행가능하다.

규격

▶Model : Bruker model VERTEX 80V
▶Specification
1. range : 8,000 - 800㎝-1

2. Resolution : High-resolution scanner option for 0.06㎝-1
resolution(Apodized function)
3. Wavenumber accuracy : Better than 0.01㎝-1
4. Photometric accuracy : 0.1% T

▶Model : Bruker Microscope model HYPERION 2000
▶Specification
1. 15 magnification objective
2. Binoculars with adjustable eyepieces
3. IR and visible illumination optics for transmittance
4. High power visible illumination (100W)
5. Video Camera Port

적용(응용)분야
사용료

◎ 수수료 10% 미포함

◎ 해당 요금은 교외요금 기준으로 교내의뢰시 50% 감면

◎ 최초 1시간 기본사용료 청구 후 30분 단위 청구가능 (09:30-10:00예약제외)

◎ 직접사용 가능 기기는 교내외 교육 후 이용 가능

 

* 신규 FE-SEM장비 JSM IT-800 는 ​​​현재 프로모션으로 FE-SEM_7800F와 가격 동일 

 (추후 변동 예정)

분석항목 단가(직접사용) 단가(분석의뢰) 단위 비고
기본
20,000원
30분
ATR/Reflection
25,000원
30분
Hyperion
30,000원
30분
Hyperion(ATR추가)
35,000원
30분
사용
20,000원
30분 페널티
관련자료


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